熱門關(guān)鍵詞: 蘇州控制板生產(chǎn)廠家 液晶模塊種類 LCD液晶屏工作原理 什么是LED背光源
一、COB液晶屏技術(shù)流程概述:
基板清潔──→點缺氧膠──→裝著晶圓──→烘烤──→焊線 ↓電測──→烘烤──→電測──→封膠──→電測 ↓OQC抽驗──→入庫
二、 COB技術(shù)各流程及設(shè)備詳述:
1.基板清潔作用:去除基板露銅處的氧化膜,確保點缺氧膠時無障礙,打線時不失線。工/治具:橡皮、毛刷、鋁盤、防靜電布、靜電環(huán)。注意事項:PCB金手指和PAD是鍍銅的,則用INK橡皮擦;鍍金或鎳烙合金的,則用藍色橡皮擦。如需折板時,必須用治具,不可用手折。
2.點缺氧膠作用:點粘著劑,使晶圓能夠裝著在PCB的PAD上。工/治具:針頭、針筒、防靜電布、靜電環(huán)。材料:常用粘著劑有缺氧膠〈紅膠〉、黑膠〈混合膠、冷膠〉、銀漿。操作步驟:操作人員在配戴好靜電環(huán)的情況下,手持灌好缺氧膠的針筒,將缺氧膠點在裝著晶圓的PAD上。材料具體作用及適用產(chǎn)品: 缺氧膠:粘性一般,價格便宜。一般用于P1058、P1205、P1128等英新達系列產(chǎn)品。 銀漿:導電性和粘性很好,價格較貴,目前只用于正運達的XO產(chǎn)品。 黑膠:粘性好,價格比銀漿便宜,目前用于HP系列產(chǎn)品?!碒P系列有HP103,HP103C,HPCPU,HPCPUC〉注意事項:?膠量適中均勻,如果膠量過多易溢到金手指上;膠量過少,晶圓裝著不上。?膠要點在晶圓PAD中心,不可點在金手指上,如果金手指沾膠易造成打線虛焊,如膠導電的,則造成線路短路。
3.裝著晶圓工/治具:真空吸筆、防靜電布、靜電環(huán)。操作步驟:確認PCB和晶圓方向是否一致;右手拿真空吸筆,打開氣壓閥,使吸筆能自如取放晶圓。用吸筆吸起晶圓,放置在PCB上的晶圓區(qū),盡量一次放正,然后用吸嘴輕壓晶圓,使晶圓牢固地粘在PCB上。注意事項:?及時處理空的晶圓盒,以免與滿盒的混淆。 吸筆頭上的鋼嘴不可外露,以免刮傷晶圓。 打開晶圓盒時注意盒蓋上是否有晶圓吸附。 要求作業(yè)員每半小時檢查一下吸筆頭〈是否露鐵管〉,有則更換吸筆頭。
4.烘烤作用:使缺氧膠固化,起到固定晶圓的作用。
工具:靜電手套、烤箱??鞠浣榻B: 型號:1.SMO-5 溫度范圍:+60℃~+200℃ 電源:AC380V、3Φ、50HZ、13.5A。 電熱量:8KW。 內(nèi)尺寸:W1010×D610×H1010mm 外尺寸:W1550×D835×H1752mm 空爐升溫時間〈MAX〉:+60℃~+200℃ 30M以內(nèi) 2.MO-3 電源:AC220V、1Φ、50HZ、25.2A。 操作步驟:?打開烤箱將待烘烤物按要求放入烤箱。 將“計時開關(guān)”、“電熱開關(guān)”設(shè)置為“ON”。 按黑膠類型設(shè)定時間、溫度,然后打開電源開關(guān)。
注意事項:?未烘烤物與已烘烤物要分區(qū)放置。 在烘烤過程中不允許打開烤箱門。 開關(guān)烤箱門時動作要輕。 超溫防止設(shè)定應(yīng)高于設(shè)定溫度的20℃。參數(shù)設(shè)定: 膠型 型號 溫度 時間 缺氧膠 90℃ 10M 銀 漿 120℃ 60M黑膠〈混合膠〉 120℃ 60M5.焊線作用:將晶圓上的輸出口電路用鋁線引致PCB上的金手指上,發(fā)揮晶圓在此線路板上的功能。工/治具、材料:靜電環(huán)、靜電指套、AB510焊線機、鑷子、無塵紙〈棉花〉、酒精。打線機調(diào)整程序: ?調(diào)整夾具; ?調(diào)整底板和晶圓焦距; ?調(diào)整旋轉(zhuǎn)中心;
?調(diào)整鋼嘴偏距; ?編寫程序; ?參數(shù)設(shè)定; ?首件檢查。作業(yè)要點:?確認生產(chǎn)機型的程序與基板,檢查夾具是否松動。 ?用右手取出裝著晶圓之PCB,左手打開夾具,將PCB按打線機生產(chǎn)設(shè)定表的要求擺放。?機器擺設(shè)如圖1示,未打線的PCB放兩機器中間,打好線的PCB放兩機器外側(cè)。?每日保養(yǎng)〈鋼嘴清潔、機臺外部清潔〉。注意事項:?機臺上只能放一片打線的PCB; ?兩機臺所生產(chǎn)機型線數(shù)應(yīng)多于40根,且兩種機型線數(shù)應(yīng)相當,最好為同一機型。 ?操作人員不許用針筆在機臺上維修。目檢作用:能及時反應(yīng)機臺打線效果。工/治具:顯微鏡、靜電環(huán)、靜電臺布。作業(yè)要點:?目檢人員將打線后的PCB放到顯微鏡下,根據(jù)COB檢驗規(guī)范有無失線、短路等不良,如有貼上不良標簽,放入紅色不良品盤中。
?目檢人員在目檢過程中如連續(xù)發(fā)現(xiàn)3PCS不良品,應(yīng)及時匯報領(lǐng)班。注意事項:取放PCB時要輕拿輕放,避免碰壞線或其它PCB。ASM的AB510半自動焊線機介紹: ?鋁線有C.C.C、KS、TANAKA等品牌,線徑有1.0MIL、1.25MIL兩種。 1.焊點間距小、密度大的基板一般用線徑1.0MIL的鋁線; 2.對于線距較大的基板在不影響前項原則的前提下選用1.25MIL的鋁線。 ?焊接角度:須≦45度?焊點大?。航鹗种缸钚〕叽?MIL,最小間距為6MIL ?若角度≧45度 解決方法: 1.重新排列金手指位置;
2.把圖2〈2〉處金手指延長。 備注:以上焊點最小尺寸為FR4玻璃纖維板可達到的精度;若板材是CAM3紙質(zhì)板,則達不到以上精度要求。 ?X--Y工作臺行程:50*50mm 精確度:5um〈0.2MIL/秒〉 θ工作臺:PCB最大工作尺寸 130*170mm 精確度:0.225°/每步 ?z--行程:10mm〈0.4〞〉 精確度:12.7um〈0.5MIL/步〉 線數(shù):350條/PCB 芯片數(shù):5個/PCB 焊線方式:超聲波焊接〈0~1W〉 焊線直徑:1.0MIL~~2.0 MIL,1.0
MIL,1.25 MIL 焊線壓力:15~100g 焊線位置:±20.4um〈±0.8MIL〉 焊線區(qū)域:距旋轉(zhuǎn)中心7.6mm〈0.3〞〉半徑 出線角度:30度 焊線速度:3.5條/秒 焊線角度:±0.02mm 焊線范圍:Dice至PCB最遠程100mm以內(nèi) 線距:標準4mm以內(nèi)。 金手指PAD寬度≧4 MIL 芯片PAD寬度≧3 MIL 金手指間距≧4 MIL PCB上須有對點用的十字線,位置應(yīng)盡力靠近金手指部位。6.電測1:作用:檢驗焊線效果。工/治具:電測治具、靜電指套、靜電臺布。
作業(yè)要點:?上線前治具作業(yè)員須先用標準樣品檢測治具功能是否完整,并做記錄,測試OK后才能上線。 ?電測前準備好兩個空盤,良品放在右邊的空盤,不良品應(yīng)貼上有編號的標簽,放在紅色的空盤里。 ?打開測試治具的上蓋,將PCB的Carbon對準治具的排針,擺放好,蓋上蓋子,按電測步驟測試。 ?不良品須重測〈在另一臺治具上測〉,防止誤測。 ?蓋子上加白紙墊子。 ?不良標簽: 1.無顯 2.缺顯 3.計算不良 4.無法清屏 5.弱顯 6.其它注意事項:保持桌面整潔、有序;參數(shù)設(shè)定:電壓 1.5V。7.封膠作用:保護焊線在搬運及后續(xù)步驟中不致?lián)p壞。工/治具:靜電環(huán)、加熱板、鋁盤、DM608黑膠/混合膠等、點膠機、控溫儀、治具、針頭、口罩。作業(yè)要點:1.冷膠作業(yè):?封膠人員在使用每一桶新黑膠前,都要經(jīng)PQE確認烘烤結(jié)果,確認烘烤結(jié)果OK后才可用這桶膠。
?選擇適當?shù)奈?,使流出的黑膠粗細適中。 ?調(diào)整點膠時間,控制膠量面積既不超過底板上的背文范圍;也不流出銅箔或金箔,黑膠高度不超過晶圓厚度的2.5倍。 ?調(diào)整真空氣壓,使得黑膠的用量均勻快速,而又不會造成壓壞鋁線,真空氣壓在0.1~0.4MPa內(nèi)可調(diào)。 ?右手像握毛筆一樣握住針管,針尖離鋁線保持在10~15mm距離,踩腳踏開關(guān),以便排出鋁線下方的氣體,保護黑膠表面沒有氣泡。 ?檢查有無溢膠、鋁線外露等現(xiàn)象,有則及時修補。2.熱膠作業(yè):?調(diào)溫控儀溫度在115~125的PCB點膠處溫度為95±5板上加熱時間超過30秒,先加熱的先點且PCB直接加熱的不超過2分鐘,置于鋁盤內(nèi)的不超過5M。
?其它步驟與冷膠作業(yè)相同。注意事項:?使用過程中,不要急速加真空,防止真空將液料拉入導氣管。 ?切勿橫放或翻轉(zhuǎn)針筒,使液料流入機內(nèi)。 ?加熱板需接地。 ?參數(shù)設(shè)定:針嘴 0.1~1.2mm 時間 18~24S 氣壓 0.1~0.4MPa8.電測2作用:測試在封膠過程中是否有作業(yè)不良。其它同電測1。9.烘烤2作用:使黑膠固化,以達到保護晶圓及焊線的效果。參數(shù)設(shè)定: 膠型 型號 溫度 時間 冷膠 WK1662 1. 80℃ 45M 2. 110℃ 65M 熱膠 DM608 120℃ 65M 熱膠
HYSOLE01061 120℃ 185M 熱膠 HYSOLE01016 150℃ 125M其它同烘烤1。10.電測3作用:測試烘烤中有無作業(yè)問題。其它同電測1。11.OQC檢驗〈根據(jù)COB檢驗規(guī)范〉?COB檢驗規(guī)范 HSI1003文件12.入庫點陣式COB液晶顯示模塊顯示豎條問題初探 STN 型液晶顯示由于存在交叉效應(yīng),在進行測試時有時會看到這樣的現(xiàn)象: 當顯示內(nèi)容時,若某一列上顯示的像素較多, 那么這一列上余下像素顯示比其它非顯示區(qū)域的像素顯示淺,而且這一列上顯示的像素數(shù)越多這一列上其它像素顯示越淺,
在整體上看就是一道道的豎條,非常明顯。針對此現(xiàn)象我們進行了分析與實驗
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